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X射線熒光光譜儀對煉鋼用鋁線中鈦元素的應(yīng)用方案
X射線熒光光譜儀對煉鋼用鋁線中鈦元素的應(yīng)用方案

本文參照有關(guān)文獻(xiàn)用日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus測定鋁錠中標(biāo)準(zhǔn)樣品,在線性范圍內(nèi)分析結(jié)果準(zhǔn)確、快速、穩(wěn)定性好。

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日本理學(xué)光譜為潤滑油元素含量的有效分析手段
日本理學(xué)光譜為潤滑油元素含量的有效分析手段

本文應(yīng)用波長色散X射線熒光光譜法采用日本理學(xué)大功率臺式波長色散X射線熒光光譜儀Supermini200測定潤滑油和添加劑中的鈣、氯、銅、鎂、磷,硫和鋅含量,能夠同時測定7種元素的含量,無需制備樣品,無潛在危險的化學(xué)品,分析快速,為潤滑油的產(chǎn)品質(zhì)量控制和使用性能監(jiān)測提供有效的分析手段。

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XRF法應(yīng)用:日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜對DD6單晶合金分析
XRF法應(yīng)用:日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜對DD6單晶合金分析

DD6單晶合金是我國自主開發(fā)研制成功的第二代鎳基單晶高溫合金,具有鑄造工藝性能好、高溫強(qiáng)度高、組織穩(wěn)定及綜合性能好等優(yōu)點(diǎn)。本文我們使用日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀 ZSX Primus III+根據(jù)DD6單晶合金元素進(jìn)行檢測。

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加氫原料油氯元素測定:日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀應(yīng)用
加氫原料油氯元素測定:日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀應(yīng)用

原油中所含元素對石油煉制、加工和產(chǎn)品質(zhì)量有很大影響,快速準(zhǔn)確測定其含量具有重要意義。開發(fā)波長色散x射線熒光光譜儀測定蠟油中的微量氯元素,直接測定加氫原料油中的微量氯含量,操作簡單快速、結(jié)果準(zhǔn)確。因此本文章對油品元素分析工作中樣品采用日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus IV進(jìn)行檢測。

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試驗方案:X射線熒光光譜儀測定轉(zhuǎn)爐渣中主要化學(xué)成分
試驗方案:X射線熒光光譜儀測定轉(zhuǎn)爐渣中主要化學(xué)成分

試制新品種鋼、冶煉特殊鋼種、開發(fā)高端品種鋼時,我們可以通過測爐渣的成分和堿度來獲得更多準(zhǔn)確可靠的數(shù)據(jù)。本次采用日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀可快速測定轉(zhuǎn)爐渣和精煉爐渣中的主要化學(xué)成分,通過繪制工作曲線,反應(yīng)樣品成分分布狀況,作為質(zhì)量控制的客觀依據(jù),指導(dǎo)煉鋼生產(chǎn),不斷完善工藝參數(shù)。

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日本理學(xué):原子熒光光譜法測定蔬菜中微量汞
日本理學(xué):原子熒光光譜法測定蔬菜中微量汞

本文采用石墨消解技術(shù)處理樣品,用原子熒光光譜法測定蔬萊中微量汞。該方法具有簡便、快速、結(jié)果準(zhǔn)確可靠等優(yōu)點(diǎn)。

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日本理學(xué)波長色散x射線熒光光譜儀對環(huán)境分析-石油分析應(yīng)用事例
日本理學(xué)波長色散x射線熒光光譜儀對環(huán)境分析-石油分析應(yīng)用事例

理學(xué)波長色散x射線熒光光譜儀環(huán)境分析應(yīng)用事例-石油分析(質(zhì)量控制)

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大氣粉塵濾片分析事例(中國環(huán)境標(biāo)準(zhǔn))
大氣粉塵濾片分析事例(中國環(huán)境標(biāo)準(zhǔn))

大氣粉塵濾片分析事例(中國環(huán)境標(biāo)準(zhǔn))日本理學(xué)正是大氣顆粒物元素分析的“老字號”,90年代已經(jīng)跟中日友好環(huán)境保護(hù)中心合作建立大氣粉塵濾片的分析方法。使用XRF分析大氣粉塵非常的容易。濾片基本上原樣分析,使用上照式波長色散x射線熒光光譜儀時不用擔(dān)心粉塵落下,濾片一般對X射線沒有那么耐性,所以調(diào)整分析條件更好1、把功率下降一點(diǎn)2、使用濾光片(Be,Al,Ni)必備工具:樣品處理工具配件(鋁制或者鈦制中空樣品杯,樣品支持板等等)推薦:對III型追加Ge晶體補(bǔ)充:大氣粉塵定量分析

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光譜秘籍:波長色散X射線熒光光譜儀測定潤滑油中22種金屬元素
光譜秘籍:波長色散X射線熒光光譜儀測定潤滑油中22種金屬元素

文章中使用波長色散X射線熒光光譜法測定潤滑油中添加劑和磨損金屬元素的含量,較好地克服磨損顆粒的尺寸對測定結(jié)果的影響,樣品不需要前處理,是一種快速、高效、準(zhǔn)確度高的方法。

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波長色散X射線熒光光譜儀對涂層中元素的定點(diǎn)分析示例
波長色散X射線熒光光譜儀對涂層中元素的定點(diǎn)分析示例

在波長色散X射線熒光光譜儀在金屬元素的測定分析已經(jīng)是應(yīng)用非常的成熟具有典型的用戶及實驗配套方案。其中,在涂層方面的檢測也有很好的應(yīng)用,如涂料紙上的涂料中有線狀異物,用CCD定點(diǎn)分析可以不破壞樣品得知其組成成分。CCD定點(diǎn)分析是利用儀器的內(nèi)置CCD相機(jī)和樣品臺驅(qū)動裝置,指定樣品表面任意位置,進(jìn)行定性或定量分析,這是X射線熒光光譜儀ZSX系列新添加的功能。另外,在此介紹如何使用樣品臺驅(qū)動裝置對檢測出的組成成分進(jìn)行元素分布分析。操作部分一、分析儀器日本理學(xué)      波長色散型X射線熒光光譜

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波長X射線熒光光譜儀——溶結(jié)凝灰?guī)r半定量分析
波長X射線熒光光譜儀——溶結(jié)凝灰?guī)r半定量分析

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十三年來堅持服務(wù)于國內(nèi)實驗分析領(lǐng)域,專注于各類儀器的研究制造與營銷服務(wù),是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實驗室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。在日本理學(xué)波長色散X熒光光譜儀有專業(yè)的銷售經(jīng)驗及技術(shù)團(tuán)隊,而且在各行業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用非常的廣泛,其中對礦石、巖石測定分析也非常的成熟。溶結(jié)凝灰?guī)r由熔巖凝固而成,分為玻璃狀的微區(qū)鏡面部分和火山灰等基質(zhì)部分。鏡面部分是顯示巖漿本質(zhì)的物質(zhì),通過對其組成的分析,可以獲得重要的信息。

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ZSX Primus波長X射線熒光光譜儀對片狀切削的鋼種的判別
ZSX Primus波長X射線熒光光譜儀對片狀切削的鋼種的判別

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長X射線熒光光譜儀,在近年來,在X射線熒光分析的樣品置備方面,對微小及微量樣品的要求日趨嚴(yán)格。針對用傳統(tǒng)儀器不能解決的樣品制備及測試等問題,通過對儀器的高靈敏度化和新方法的開發(fā),不僅解決了以上問題,而且應(yīng)用范圍越來越廣泛。下面分享如何應(yīng)用ZSX Primus系列波長X射線熒光光譜儀能夠以CCD相機(jī)拍攝樣品表面后得到的圖象為基礎(chǔ),指定任意測試位置進(jìn)行定性分析的儀器,通過對一片片狀切削屑進(jìn)行定性分析及半定量值分析的結(jié)果,判別其鋼種。操作部分一、儀器波長色散X射線熒光光譜儀(ZSX Prim

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波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖分析
波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖分析

廣州儀德X射線熒光光譜儀對礦石領(lǐng)域的金屬元素分析有著豐富的經(jīng)驗及完整的配套方案,下面分享通過日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖的元素分析。俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖,是由石英,斜長石,云母,角閃石等構(gòu)成的礦物質(zhì)。在此介紹如何使用ZSX新功能---CCD相機(jī)和樣品臺驅(qū)動裝置組合,對花崗巖進(jìn)行CCD元素分布分析。CCD元素分布分析是利用儀器內(nèi)置的CCD相機(jī)對直接觀察樣品表面,指定任意位置進(jìn)行的元素分析。實驗操作部分一、儀器ZSX系列波長色散X射線熒光光譜儀(日本理學(xué))二、樣品制備將樣品按樣品架大小切割,打磨

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日本理學(xué)上照式X射線熒光光譜儀對風(fēng)化堆積巖的分析方法
日本理學(xué)上照式X射線熒光光譜儀對風(fēng)化堆積巖的分析方法

礦石開采及礦石判定需要的精準(zhǔn)的進(jìn)行分析測定廣州儀德代理的日本理學(xué)X射線熒光光譜儀可以輕松解決,下面通過實際案例分享測定方法,為礦產(chǎn)行業(yè)提供寶貴經(jīng)驗。為對局部變色堆積巖的變色原因進(jìn)行無損檢查,使用X射線熒光分析儀作CCD定點(diǎn)分析及元素分布分析。CCD定點(diǎn)分析和元素分布分析是根據(jù)儀器內(nèi)置的CCD相機(jī)和樣品臺驅(qū)動裝置的組合,指定任意位置進(jìn)行測試的方法。就此分析而言,這是一種非常有效的測試方法。這次以分析面積為0.5mm?的小分析直徑進(jìn)行元素分布分析。即使是小直徑分析,也可得到很高的精度,在短時間內(nèi)得到滿意的結(jié)果。實驗操作

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日本理學(xué)波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析
日本理學(xué)波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析

廣州儀德公司專業(yè)銷售日本理學(xué)波譜,波譜不限于材料的形狀,應(yīng)用多領(lǐng)域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析,為礦石領(lǐng)域?qū)r石測定分析提供寶貴經(jīng)驗。使用儀器分析室內(nèi)置的相機(jī)將巖石樣品中需要關(guān)注的測量范圍放大后進(jìn)行了分析。紅框內(nèi)擴(kuò)大了的范圍由右圖表示??梢愿艿刂付y量位置。面掃3描分析結(jié)果微區(qū)測繪測繪數(shù)據(jù)的測繪視圖統(tǒng)合為以攝像圖和數(shù)據(jù)(圖、測量數(shù)據(jù))來表示。圖示種類有不同模式,可以采用有效的圖示。各測量點(diǎn)的Mg-Kα的譜線比較SQX方法做的定

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理學(xué)ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀特點(diǎn)
理學(xué)ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀特點(diǎn)

廣州儀德專業(yè)代理日本理學(xué)ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀,波長色散型光譜儀可解決多種不同類型樣品金屬元素分析,有效快速幫助各類行加工、生產(chǎn)。本文章分享ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀這款設(shè)備的特點(diǎn)。硬件最安全、軟件最安心、維護(hù)最方便萬一的失誤導(dǎo)致儀器損壞令人十分痛心。高性能的精密分析儀器ZSXPrimusIV設(shè)計為即便粉末樣品發(fā)生粉末飛散也不會損壞儀器的上照射方式。在軟件上也設(shè)計為防止操作失誤的用戶分級管理方式。即便粉末樣品松散下落也不會污染光學(xué)系統(tǒng)-上照射方式因為采用上照射方式粉末壓片樣品

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日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀無法開啟X射線的解決方法
日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀無法開啟X射線的解決方法

廣州儀德專業(yè)代理日本理學(xué)波長色散型X射線熒光光譜儀,本次文章主要分享理學(xué)中其中一款X射線熒光光譜儀在開啟X射線管時出現(xiàn)下述故障現(xiàn)象?故障現(xiàn)象:無法開啟X射線?錯誤級別:失敗發(fā)生部件:XG發(fā)生器錯誤原因:與XG發(fā)生器通訊控制出錯錯誤代碼:11錯誤及產(chǎn)生原因:X射線發(fā)生器沒有初始化,所以不能夠控制XG?維護(hù)信息:關(guān)閉ZSX軟件,并重新啟動初始化。解決辦法1、按照儀器給出的維護(hù)信息,關(guān)閉ZSX應(yīng)用軟件,關(guān)掉主機(jī),過5分鐘后,重新開啟X熒光儀,ZSX應(yīng)用軟件正常運(yùn)行,X熒光儀主機(jī)正常初始化,儀器狀態(tài)正常?開啟X-ray時,

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ZSX PrimusⅡX射線發(fā)生器故障的排除
ZSX PrimusⅡX射線發(fā)生器故障的排除

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)ZSXPrimusⅡ型波長色散X熒光光譜儀,今天分享ZSX PrimusⅡ波長色散X熒光光譜儀在使用過程中頻繁出現(xiàn)X射線發(fā)生器發(fā)生異常狀態(tài)故障現(xiàn)象及故障處理,其錯誤級別:失敗,出錯部位:X射線發(fā)生器,錯誤內(nèi)容:X射線發(fā)生器異常狀態(tài),錯誤代碼:23?(故障記錄如下圖片所示)故障處理1、首先排除光管散熱差造成的故障?清潔二次水(內(nèi)循環(huán)水)過濾器濾芯,恢復(fù)后,流量有所改善(3.75L/min-3.80L/min),但是故障依然?2、補(bǔ)足二次水(內(nèi)循環(huán)水)水箱,并調(diào)節(jié)其水壓由0.32MPa-0.

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ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點(diǎn)介紹
ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點(diǎn)介紹

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀?,在理學(xué)光譜上得到廣泛用戶的好評與支持,日本理學(xué)波長色散光譜儀應(yīng)用非常的廣泛:電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境保護(hù)。同時檢測材料狀態(tài)也比較比樣性:粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

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理學(xué)ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀對礦石測定方法
理學(xué)ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀對礦石測定方法

日本理學(xué)ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜分析儀,該儀器為上照式端窗型單道掃描儀,配備LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五塊晶體,性能優(yōu)越,高精密度以及低檢出限,可測試從N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。

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