熱門(mén)關(guān)鍵詞:X射線熒光光譜儀光譜儀價(jià)格手持式礦石分析儀鋁合金標(biāo)樣
儀器:135-0001-7008
標(biāo)樣:180-7108-0982
熱門(mén)關(guān)鍵詞:X射線熒光光譜儀光譜儀價(jià)格手持式礦石分析儀鋁合金標(biāo)樣
廣州儀德專(zhuān)業(yè)代理日本理學(xué)ZSX PrimusIV波長(zhǎng)色散X射線光譜儀,波長(zhǎng)色散型光譜儀可解決多種不同類(lèi)型樣品金屬元素分析,有效快速幫助各類(lèi)行加工、生產(chǎn)。本文章分享ZSX PrimusIV波長(zhǎng)色散X射線光譜儀這款設(shè)備的特點(diǎn)。
硬件最安全、軟件最安心、維護(hù)最方便
萬(wàn)一的失誤導(dǎo)致儀器損壞令人十分痛心。高性能的精密分析儀器ZSXPrimusIV設(shè)計(jì)為即便粉末樣品發(fā)生粉末飛散也不會(huì)損壞儀器的上照射方式。在軟件上也設(shè)計(jì)為防止操作失誤的用戶(hù)分級(jí)管理方式。
即便粉末樣品松散下落也不會(huì)污染光學(xué)系統(tǒng)-上照射方式
因?yàn)椴捎蒙险丈浞绞椒勰浩瑯悠返姆勰╋w散、下落也不會(huì)貴給光學(xué)系統(tǒng)造成影響。也不需要粘貼樣品保護(hù)薄膜。
新技術(shù)的采用和精細(xì)的設(shè)計(jì)-奠定
ZSXPrimusIV的各組件都使用著最先端的要素技術(shù),加之微細(xì)處因此,無(wú)論是對(duì)要求高精細(xì)的研究,還是對(duì)大量測(cè)量的日常質(zhì)量。
液體樣品分析用真空封擋系統(tǒng)
在樣品室和分析室之間以隔壁封擋方式自動(dòng)置換氦氣,大幅度縮短了由真空向氦氣光路的置換時(shí)間。
液體樣品盒自動(dòng)識(shí)別機(jī)構(gòu)
分析液體樣品時(shí),樣品室需要置換成He氣氛圍。通過(guò)液體樣品盒自動(dòng)識(shí)別機(jī)構(gòu)可以避免液體樣品盒在真空狀態(tài)下進(jìn)入樣品室,從而放心地測(cè)量液體樣品。
樣品盒位置一目了然
樣品臺(tái)正面和右側(cè)面均為透明窗,所以坐在計(jì)算機(jī)前操作儀器的同時(shí)可以一-目了然地確認(rèn)分析樣品的位置。
不需要PR氣體的S-PCLE
可以選配測(cè)量輕元素的氣體封閉型正比計(jì)數(shù)器(S-PC LE)。方便在難以購(gòu)置PR氣體的地方使用。注:使用F-PC檢測(cè)器時(shí),必須使用檢測(cè)器用氣體(PR氣體)
獨(dú)特的光學(xué)系統(tǒng)-減少樣品表面不平整的影響
被測(cè)量樣品表面凹凸不平的話,分析面與X光管的距離便有差異,這樣的距離差異會(huì)帶來(lái)強(qiáng)度變化。理學(xué)儀器的光學(xué)系統(tǒng)可以減少由于距離不同引起的X光強(qiáng)的變化。
玻璃熔片時(shí)由于坩堝之間底部形狀的差異造成的影響、粉末壓片時(shí)樣品表面凹凸的影響等都可通過(guò)此光學(xué)系統(tǒng)予以校準(zhǔn),得到更加準(zhǔn)確的分析。
高靈敏度彎晶
可配置PET彎晶和Ge彎晶。高靈敏度Ge彎晶與平晶相比,對(duì)P、S的靈敏度提高了30%;高靈敏度PRT彎晶與平晶相比,Al、Si的靈敏度提高了30%。也可以使用在SQX程序中,提高無(wú)標(biāo)樣定量分析的靈敏度。
一次X射線濾光片
設(shè)置在X射線光管和樣品之間,用于減輕X射線光管發(fā)出的連續(xù)X射線或特征X射線對(duì)分析譜線的妨礙。
散射線SQX
使用散射線強(qiáng)度來(lái)推定樣品中非測(cè)量成分的超輕元素(C、H、O、N)的影響,對(duì)污泥、水垢等含有非測(cè)量成分的樣品,不做非測(cè)量成分設(shè)定便可進(jìn)行更加準(zhǔn)確的近似定量分析。
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