運(yùn)用X射線熒光光譜儀如何測(cè)定石灰?guī)r白云巖中的氯和硫

石灰?guī)r和白云巖中硫和氯的含量不同會(huì)影響材料運(yùn)用效應(yīng)。測(cè)定石灰?guī)r和白云巖中硫的含量一般采用燃燒碘量法，測(cè)定氯的含量就采用氯化銀比濁法。運(yùn)用X射線熒光光譜儀可對(duì)巖石中元素含量進(jìn)行測(cè)定。

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波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀對(duì)涂層中元素的定點(diǎn)分析示例

在波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀在金屬元素的測(cè)定分析已經(jīng)是應(yīng)用非常的成熟具有典型的用戶及實(shí)驗(yàn)配套方案。其中，在涂層方面的檢測(cè)也有很好的應(yīng)用，如涂料紙上的涂料中有線狀異物，用CCD定點(diǎn)分析可以不破壞樣品得知其組成成分。CCD定點(diǎn)分析是利用儀器的內(nèi)置CCD相機(jī)和樣品臺(tái)驅(qū)動(dòng)裝置，指定樣品表面任意位置，進(jìn)行定性或定量分析，這是X射線熒光光譜儀ZSX系列新添加的功能。另外，在此介紹如何使用樣品臺(tái)驅(qū)動(dòng)裝置對(duì)檢測(cè)出的組成成分進(jìn)行元素分布分析。操作部分一、分析儀器日本理學(xué)      波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜

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波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀——溶結(jié)凝灰?guī)r半定量分析

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司（原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司）創(chuàng)立于2005年，十三年來堅(jiān)持服務(wù)于國(guó)內(nèi)實(shí)驗(yàn)分析領(lǐng)域，專注于各類儀器的研究制造與營(yíng)銷服務(wù)，是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實(shí)驗(yàn)室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。在日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X熒光光譜儀有專業(yè)的銷售經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)團(tuán)隊(duì)，而且在各行業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用非常的廣泛，其中對(duì)礦石、巖石測(cè)定分析也非常的成熟。溶結(jié)凝灰?guī)r由熔巖凝固而成，分為玻璃狀的微區(qū)鏡面部分和火山灰等基質(zhì)部分。鏡面部分是顯示巖漿本質(zhì)的物質(zhì)，通過對(duì)其組成的分析，可以獲得重要的信息。

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ZSX Primus波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀對(duì)片狀切削的鋼種的判別

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀，在近年來，在X射線熒光分析的樣品置備方面，對(duì)微小及微量樣品的要求日趨嚴(yán)格。針對(duì)用傳統(tǒng)儀器不能解決的樣品制備及測(cè)試等問題，通過對(duì)儀器的高靈敏度化和新方法的開發(fā)，不僅解決了以上問題，而且應(yīng)用范圍越來越廣泛。下面分享如何應(yīng)用ZSX Primus系列波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀能夠以CCD相機(jī)拍攝樣品表面后得到的圖象為基礎(chǔ)，指定任意測(cè)試位置進(jìn)行定性分析的儀器，通過對(duì)一片片狀切削屑進(jìn)行定性分析及半定量值分析的結(jié)果，判別其鋼種。操作部分一、儀器波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀（ZSX Prim

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波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀對(duì)花崗巖分析

廣州儀德X射線熒光光譜儀對(duì)礦石領(lǐng)域的金屬元素分析有著豐富的經(jīng)驗(yàn)及完整的配套方案，下面分享通過日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀對(duì)花崗巖的元素分析。俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖，是由石英，斜長(zhǎng)石，云母，角閃石等構(gòu)成的礦物質(zhì)。在此介紹如何使用ZSX新功能---CCD相機(jī)和樣品臺(tái)驅(qū)動(dòng)裝置組合，對(duì)花崗巖進(jìn)行CCD元素分布分析。CCD元素分布分析是利用儀器內(nèi)置的CCD相機(jī)對(duì)直接觀察樣品表面，指定任意位置進(jìn)行的元素分析。實(shí)驗(yàn)操作部分一、儀器ZSX系列波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀（日本理學(xué)）二、樣品制備將樣品按樣品架大小切割，打磨

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日本理學(xué)上照式X射線熒光光譜儀對(duì)風(fēng)化堆積巖的分析方法

礦石開采及礦石判定需要的精準(zhǔn)的進(jìn)行分析測(cè)定廣州儀德代理的日本理學(xué)X射線熒光光譜儀可以輕松解決，下面通過實(shí)際案例分享測(cè)定方法，為礦產(chǎn)行業(yè)提供寶貴經(jīng)驗(yàn)。為對(duì)局部變色堆積巖的變色原因進(jìn)行無損檢查，使用X射線熒光分析儀作CCD定點(diǎn)分析及元素分布分析。CCD定點(diǎn)分析和元素分布分析是根據(jù)儀器內(nèi)置的CCD相機(jī)和樣品臺(tái)驅(qū)動(dòng)裝置的組合，指定任意位置進(jìn)行測(cè)試的方法。就此分析而言，這是一種非常有效的測(cè)試方法。這次以分析面積為0.5mm?的小分析直徑進(jìn)行元素分布分析。即使是小直徑分析，也可得到很高的精度，在短時(shí)間內(nèi)得到滿意的結(jié)果。實(shí)驗(yàn)操作

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日本理學(xué)波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀對(duì)巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析

廣州儀德公司專業(yè)銷售日本理學(xué)波譜，波譜不限于材料的形狀，應(yīng)用多領(lǐng)域金屬元素的測(cè)定分析。本文章簡(jiǎn)單介紹日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀對(duì)巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析，為礦石領(lǐng)域?qū)r石測(cè)定分析提供寶貴經(jīng)驗(yàn)。使用儀器分析室內(nèi)置的相機(jī)將巖石樣品中需要關(guān)注的測(cè)量范圍放大后進(jìn)行了分析。紅框內(nèi)擴(kuò)大了的范圍由右圖表示?？梢愿艿刂付y(cè)量位置。面掃3描分析結(jié)果微區(qū)測(cè)繪測(cè)繪數(shù)據(jù)的測(cè)繪視圖統(tǒng)合為以攝像圖和數(shù)據(jù)(圖、測(cè)量數(shù)據(jù))來表示。圖示種類有不同模式，可以采用有效的圖示。各測(cè)量點(diǎn)的Mg-Kα的譜線比較SQX方法做的定

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精密儀器之X射線熒光光譜儀

簡(jiǎn)介：X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡(jiǎn)稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。使用型態(tài)：XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時(shí)候，

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日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀無法開啟X射線的解決方法

廣州儀德專業(yè)代理日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀，本次文章主要分享理學(xué)中其中一款X射線熒光光譜儀在開啟X射線管時(shí)出現(xiàn)下述故障現(xiàn)象?故障現(xiàn)象:無法開啟X射線?錯(cuò)誤級(jí)別:失敗發(fā)生部件:XG發(fā)生器錯(cuò)誤原因:與XG發(fā)生器通訊控制出錯(cuò)錯(cuò)誤代碼:11錯(cuò)誤及產(chǎn)生原因:X射線發(fā)生器沒有初始化,所以不能夠控制XG?維護(hù)信息:關(guān)閉ZSX軟件,并重新啟動(dòng)初始化。解決辦法1、按照儀器給出的維護(hù)信息,關(guān)閉ZSX應(yīng)用軟件,關(guān)掉主機(jī),過5分鐘后,重新開啟X熒光儀,ZSX應(yīng)用軟件正常運(yùn)行,X熒光儀主機(jī)正常初始化,儀器狀態(tài)正常?開啟X-ray時(shí),

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ZSXPrimusII波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀特點(diǎn)介紹

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀?，在理學(xué)光譜上得到廣泛用戶的好評(píng)與支持，日本理學(xué)波長(zhǎng)色散光譜儀應(yīng)用非常的廣泛：電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境保護(hù)。同時(shí)檢測(cè)材料狀態(tài)也比較比樣性：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

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理學(xué)ZSX PrimusⅡ波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀對(duì)礦石測(cè)定方法

日本理學(xué)ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜分析儀，該儀器為上照式端窗型單道掃描儀，配備LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五塊晶體，性能優(yōu)越，高精密度以及低檢出限，可測(cè)試從N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。

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什么是波長(zhǎng)色散x射線熒光光譜儀？

波長(zhǎng)色散x射線熒光光譜儀是利用原級(jí)X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品，分析速度快，適用于測(cè)定原子序數(shù)4以上的所有化學(xué)元素，分析精度高，樣品制備簡(jiǎn)單。X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長(zhǎng)色散型和能量色散型。波長(zhǎng)色散型XRF光譜儀由X射線管激發(fā)源，分

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日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀對(duì)項(xiàng)目檢定操作實(shí)例

多數(shù)操作人員對(duì)日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程可能不大清楚或者并沒有具體的操作，儀德公司分享采用日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀對(duì)項(xiàng)目檢定方法操作實(shí)例，方便廣大用戶進(jìn)行學(xué)習(xí)，本方法來源于網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)供參考用，不做商業(yè)用。檢定項(xiàng)目操作實(shí)例以日本理學(xué)X射線熒光光譜儀為例，以表1為技術(shù)指標(biāo)，進(jìn)行分析測(cè)試。1、精密度測(cè)試精密度以12次連續(xù)重復(fù)測(cè)量的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD表示。每次測(cè)量都必須改變機(jī)械設(shè)置條件，包括晶體、計(jì)數(shù)器、準(zhǔn)直器、2θ角度、濾波片、衰減器和樣品轉(zhuǎn)臺(tái)位置等。上式中：s——n次測(cè)量的標(biāo)

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波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀環(huán)境條件與技術(shù)指標(biāo)（分享版）

根據(jù)JJG810-1993中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程《波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀》，對(duì)儀器進(jìn)行檢定/校準(zhǔn)，在確保各項(xiàng)指標(biāo)合格的前提下，儀器方可投入使用。本文對(duì)檢定中涉及的指標(biāo)進(jìn)行具體實(shí)驗(yàn)分析統(tǒng)計(jì)，給出詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。并對(duì)檢定的項(xiàng)目進(jìn)行了探討，為下一步檢定規(guī)程的修訂提供了建議。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程1993年的版本一直沿用至今天，但是X射線熒光光譜儀已經(jīng)進(jìn)行了飛速的發(fā)展，如今的波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀器已經(jīng)發(fā)展到了波譜、能譜和微區(qū)掃描三者相結(jié)合的大型儀器，具備了更優(yōu)異的檢測(cè)性能和新增了掃描性能，并且隨著國(guó)

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一分鐘掌握波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的原理結(jié)構(gòu)

多數(shù)人到現(xiàn)在還不清楚如何的區(qū)分波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的之間的區(qū)別到底有哪一些不一樣的，本文中使用表格的形式簡(jiǎn)單的介紹兩者之間的原理結(jié)構(gòu)，一分鐘快速掌握其中的奧秘。項(xiàng)目波長(zhǎng)色散型能量色散型原理X熒光經(jīng)晶體分光，在不同行射角測(cè)量不同元素的特征線X熒光直接進(jìn)入檢測(cè)器，經(jīng)電子學(xué)系統(tǒng)處理得到不同元素(不同能量)的X熒光能譜結(jié)構(gòu)為滿足全波段需要，配置多塊晶體，根據(jù)單道掃描和多道同時(shí)測(cè)定的需要，設(shè)置掃描機(jī)構(gòu)和若干固定通道無掃描機(jī)構(gòu)，只用一個(gè)檢測(cè)器和多道脈沖分析器，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單得多，無轉(zhuǎn)動(dòng)件，可靠性高X-光管高功

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波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產(chǎn)品的區(qū)別

日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產(chǎn)品各有獨(dú)自的優(yōu)勢(shì)，針對(duì)不同類的樣品檢測(cè)各有著長(zhǎng)處之處，波長(zhǎng)色散型X熒光光譜儀在分析上有著很高的精確度和精密度，能量色散型多數(shù)用去牌號(hào)的快速檢測(cè)和篩選。下面從這兩款光譜儀的原理與功能介紹它們之間的存的區(qū)別有哪些。

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ZSX Primus Ⅱ波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀探測(cè)器故障問題

ZSX Primus Ⅱ波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在使用過程上假如出現(xiàn)了PC探測(cè)器的PHA調(diào)節(jié)不能正常進(jìn)行怎么處理，廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司工程師教你一招，自己也可以進(jìn)行故障排除。故障現(xiàn)象：進(jìn)行PHA日常調(diào)節(jié)時(shí)，PC探測(cè)器微分曲線譜峰太低，嚴(yán)重變形，無法計(jì)算分辨率、“錯(cuò)誤內(nèi)容”提示“因?yàn)槊}高微分曲線的譜峰太低，所以不能進(jìn)行PHA調(diào)節(jié)”，“維護(hù)信息”顯示：“可能使用了錯(cuò)誤的PHA調(diào)節(jié)樣品，或者PHA調(diào)節(jié)的條件設(shè)置錯(cuò)誤”。

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ZSX Primus Ⅱ波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀中X光管故障解決問題

ZSX Primus Ⅱ 波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在檢測(cè)過程中由于不正確的使用或者沒有定期的進(jìn)行維護(hù)保養(yǎng)，容易造成機(jī)器的故障，下面跟大家分享ZSX Primus系列中二代波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀在分析中出現(xiàn)X光管故障的現(xiàn)象、產(chǎn)生的原因與最終解決的二種方法。第一故障現(xiàn)象：正常使用過程中，X光管忽然關(guān)閉。“錯(cuò)誤內(nèi)容”提示“X射線發(fā)生器發(fā)生異常”，“維護(hù)信息”顯示：“探測(cè)到X射線發(fā)生器有異常情況”。原因分析：X射線發(fā)生器本

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ZSX Primus Ⅱ波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀解決初始化無法進(jìn)行兩種方法

進(jìn)口ZSX Primus Ⅱ色散型X射線熒光光譜儀是日本理學(xué)推出的波長(zhǎng)熒光光譜儀，性能先進(jìn)，操作方便，已 廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、鋼鐵、冶煉、醫(yī)藥等多領(lǐng)域。但在實(shí)際使用過程中有時(shí)會(huì)出現(xiàn)這樣那樣的故障，影響正 常測(cè)試工作的及時(shí)性和測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，文章針對(duì)ZSX Primus Ⅱ波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀的初始化無法進(jìn)行的兩個(gè)常見的故障現(xiàn)象進(jìn)行介紹，介紹故障出現(xiàn)的問題、原因分析及解決方法，希望對(duì)大家有所幫助。初始化無法進(jìn)行故障一故障現(xiàn)象：安裝新光管后主機(jī)與計(jì)算機(jī)不能連接，也沒有錯(cuò)誤信息提示。原因分析：錯(cuò)誤現(xiàn)象表明計(jì)算機(jī)系統(tǒng)探

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Supermini200 波長(zhǎng)色散型臺(tái)式X射線熒光光譜儀檢測(cè)范圍

理學(xué)多年的積累研制的Supermini200 小型波長(zhǎng)色散型儀器， 由高性能的硬件和最新軟件的完美結(jié)合，使得臺(tái)式機(jī)具有高精度、高穩(wěn)定的機(jī)能。Supermini200 波長(zhǎng)色散型臺(tái)式X射線熒光光譜儀檢測(cè)性能非常的高，同一個(gè)畫面上的分析、測(cè)量、結(jié)果確認(rèn)操作簡(jiǎn)單。Supermini200還配置了高功率200W的Pd靶陶瓷管，能夠進(jìn)行高靈敏度的分析。Supermini200波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀能快速解決各行業(yè)元素分析檢測(cè)問題，大大提高工作效率。下面簡(jiǎn)單介紹其中部分分析應(yīng)用：部分應(yīng)用1、含有稀土類重元素等氧化物的定性分

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