原理

X熒光經(jīng)晶體分光，在不同行射角測量不同元素的特征線

X熒光直接進(jìn)入檢測器，經(jīng)電子學(xué)系統(tǒng)處理得到不同元素(不同能量)的X熒光能譜

結(jié)構(gòu)

為滿足全波段需要，配置多塊晶體，根據(jù)單道掃描和多道同時(shí)測定的需要，設(shè)置掃描機(jī)構(gòu)和若干固定通道

無掃描機(jī)構(gòu)，只用一個(gè)檢測器和多道脈沖分析器，結(jié)構(gòu)簡單得多，無轉(zhuǎn)動(dòng)件，可靠性高

X-光管

高功率，要高容量冷卻系統(tǒng)，管壽命短

低功率，不需冷卻水，管壽命水

檢測器

正比計(jì)數(shù)器，和λ、晶體、檢測器有關(guān)

Si(Li)，用LN冷卻

靈敏度

μg/g級

輕基體μg/g級，其它10~10²μg/g級

準(zhǔn)確度

取決于標(biāo)樣

取決于標(biāo)樣

精密度

很好

低濃度時(shí)不如WD

系統(tǒng)穩(wěn)定性

需作周期性漂移校正，定期作工作曲線

好，工作曲線可長時(shí)間使用

方便性

一般

好

分析速度

單道慢，多道快

快

人員要求

較高

一般

樣品表面

要求平坦

要求不高

價(jià)格

價(jià)格貴

價(jià)格便宜，適用中小企業(yè)

測定元素范圍

Z≥5B-U

Z≥11，Na-U，特殊薄窗時(shí)可Z≥8，O-U