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X射線熒光光譜儀對煉鋼用鋁線中鈦元素的應(yīng)用方案

本文參照有關(guān)文獻用日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus測定鋁錠中標(biāo)準(zhǔn)樣品，在線性范圍內(nèi)分析結(jié)果準(zhǔn)確、快速、穩(wěn)定性好。

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XRF法應(yīng)用：日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜對DD6單晶合金分析

DD6單晶合金是我國自主開發(fā)研制成功的第二代鎳基單晶高溫合金,具有鑄造工藝性能好、高溫強度高、組織穩(wěn)定及綜合性能好等優(yōu)點。本文我們使用日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀 ZSX Primus III+根據(jù)DD6單晶合金元素進行檢測。

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加氫原料油氯元素測定：日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀應(yīng)用

原油中所含元素對石油煉制、加工和產(chǎn)品質(zhì)量有很大影響，快速準(zhǔn)確測定其含量具有重要意義。開發(fā)波長色散x射線熒光光譜儀測定蠟油中的微量氯元素，直接測定加氫原料油中的微量氯含量，操作簡單快速、結(jié)果準(zhǔn)確。因此本文章對油品元素分析工作中樣品采用日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus IV進行檢測。

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試驗方案：X射線熒光光譜儀測定轉(zhuǎn)爐渣中主要化學(xué)成分

試制新品種鋼、冶煉特殊鋼種、開發(fā)高端品種鋼時，我們可以通過測爐渣的成分和堿度來獲得更多準(zhǔn)確可靠的數(shù)據(jù)。本次采用日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀可快速測定轉(zhuǎn)爐渣和精煉爐渣中的主要化學(xué)成分，通過繪制工作曲線，反應(yīng)樣品成分分布狀況，作為質(zhì)量控制的客觀依據(jù)，指導(dǎo)煉鋼生產(chǎn)，不斷完善工藝參數(shù)。

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日本理學(xué)波長色散x射線熒光光譜儀對環(huán)境分析-石油分析應(yīng)用事例

理學(xué)波長色散x射線熒光光譜儀環(huán)境分析應(yīng)用事例-石油分析（質(zhì)量控制）

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波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖分析

廣州儀德X射線熒光光譜儀對礦石領(lǐng)域的金屬元素分析有著豐富的經(jīng)驗及完整的配套方案，下面分享通過日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖的元素分析。俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖，是由石英，斜長石，云母，角閃石等構(gòu)成的礦物質(zhì)。在此介紹如何使用ZSX新功能---CCD相機和樣品臺驅(qū)動裝置組合，對花崗巖進行CCD元素分布分析。CCD元素分布分析是利用儀器內(nèi)置的CCD相機對直接觀察樣品表面，指定任意位置進行的元素分析。實驗操作部分一、儀器ZSX系列波長色散X射線熒光光譜儀（日本理學(xué)）二、樣品制備將樣品按樣品架大小切割，打磨

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日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀無法開啟X射線的解決方法

廣州儀德專業(yè)代理日本理學(xué)波長色散型X射線熒光光譜儀，本次文章主要分享理學(xué)中其中一款X射線熒光光譜儀在開啟X射線管時出現(xiàn)下述故障現(xiàn)象?故障現(xiàn)象:無法開啟X射線?錯誤級別:失敗發(fā)生部件:XG發(fā)生器錯誤原因:與XG發(fā)生器通訊控制出錯錯誤代碼:11錯誤及產(chǎn)生原因:X射線發(fā)生器沒有初始化,所以不能夠控制XG?維護信息:關(guān)閉ZSX軟件,并重新啟動初始化。解決辦法1、按照儀器給出的維護信息,關(guān)閉ZSX應(yīng)用軟件,關(guān)掉主機,過5分鐘后,重新開啟X熒光儀,ZSX應(yīng)用軟件正常運行,X熒光儀主機正常初始化,儀器狀態(tài)正常?開啟X-ray時,

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ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點介紹

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀?，在理學(xué)光譜上得到廣泛用戶的好評與支持，日本理學(xué)波長色散光譜儀應(yīng)用非常的廣泛：電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境保護。同時檢測材料狀態(tài)也比較比樣性：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

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日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定操作實例

多數(shù)操作人員對日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程可能不大清楚或者并沒有具體的操作，儀德公司分享采用日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定方法操作實例，方便廣大用戶進行學(xué)習(xí)，本方法來源于網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)供參考用，不做商業(yè)用。檢定項目操作實例以日本理學(xué)X射線熒光光譜儀為例，以表1為技術(shù)指標(biāo)，進行分析測試。1、精密度測試精密度以12次連續(xù)重復(fù)測量的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD表示。每次測量都必須改變機械設(shè)置條件，包括晶體、計數(shù)器、準(zhǔn)直器、2θ角度、濾波片、衰減器和樣品轉(zhuǎn)臺位置等。上式中：s——n次測量的標(biāo)

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