儀器:135-0001-7008
標樣:180-7108-0982
據(jù)全國標準信息公共服務平臺信息,以“光譜”為關鍵詞搜索(不完全統(tǒng)計),2022年開始,有近30項光譜分析方法相關的新國標及行標實施或者即將實施,包含7項原子吸收光譜方法,5項紅外光譜分析方法,5項X射線熒光光譜法,4項電感耦合等離子體發(fā)射光譜法等。
以下將列出X射線熒光光譜法和電感耦合等離子體發(fā)射光譜法:
X射線熒光光譜(XRF)技術,因其非破壞性小、快速、操作簡便等特點,廣泛應用于RoHS、有害元素檢查、工業(yè)現(xiàn)場成分分析、貴金屬檢測、廢舊金屬回收、地質(zhì)勘探、環(huán)境監(jiān)測、考古研究、鍍層層厚分析、食品安全監(jiān)測以及生物、化學、藥物等眾多領域中,是野外現(xiàn)場分析和過程控制分析等方面首選儀器之一。2022年,有4項相關的國標、1條行標即將實施,包括《釩渣 多元素的測定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)》、《X射線熒光光譜法測定鈉鈣硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量》等。
隨著分光及檢測器等關鍵元件的快速發(fā)展,電感耦合等離子體發(fā)射光譜技術也不斷完善,其分析能力和技術的進步為元素分析帶來了巨大的便利,已在地質(zhì)、環(huán)保、化工、生物、醫(yī)藥、食品、冶金、農(nóng)業(yè)等領域發(fā)揮著至關重要的作用。據(jù)不完全統(tǒng)計,目前現(xiàn)行的電感耦合等離子體發(fā)射光譜法相關國標有115項,另有2項2022年實施,包括《鋼鐵及合金 硅含量的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法》等。