實(shí)驗(yàn)室分析：ICP光譜儀

斯派克雙向觀測型全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀：新型SPECTRO ARCOS ICP-OES光譜儀將電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀的效率和性能推向了新巔峰。

德國斯派克等離子質(zhì)譜儀 ICP SPECTRO MS

1974年第一臺(tái)以電咸耦合等離子體（ICP）作為激發(fā)光源的ICP發(fā)射光譜儀問世。1983年ICP質(zhì)譜儀開始推出，并很快確立了基市場地位。ICP質(zhì)譜具有極高的靈敏感度、極少的干憂，使分析結(jié)果更為精確，由于ICP質(zhì)譜的檢出限極低所以，所以儀器需要在潔凈室中動(dòng)行，以免受環(huán)境污染的影響。

德國斯派克雙向觀測型全譜直讀等離子體發(fā)射ICP光譜儀 SPECTRO ARCOS

斯派克雙向觀測型全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀新型SPECTRO ARCOS ICP-OES光譜儀將電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀的效率和性能推向了新巔峰。 SPECTRO ARCOS ICP-OES光譜儀廣泛適用于在工業(yè)和學(xué)術(shù)領(lǐng)域中進(jìn)行先進(jìn)的金屬、化學(xué)、石化和其他材料的元素分析。

德國斯派克ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀 SPECTROGREEN

VHG磨損金屬套標(biāo)

美國VHG公司是世界最大的生產(chǎn)金屬油基和水基標(biāo)準(zhǔn)樣品的公司之一，為分析化學(xué)領(lǐng)域提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和服務(wù)。VHG Labs的所有產(chǎn)品均符合ASTM、NIST 等國際標(biāo)準(zhǔn),通過ISO9001:2000和ISO/IEC17025:2005認(rèn)證,所有產(chǎn)品配有全面分析證明書（Certificate Of Analysis，COA）。VHG Labs 的金屬有機(jī)標(biāo)樣通過 ICP、AA、RDE、DC、XRF 等儀器來分析測定油和有機(jī)溶劑中的金屬。另外，還提供符合 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)的含硫、氯和金屬標(biāo)樣用于石油類產(chǎn)品的檢測。

單元素ICP油標(biāo)標(biāo)樣

ICP單元素油標(biāo) (50g包裝，混合于烴油中)

德國斯派克等離子體發(fā)射ICP光譜儀 ICP光譜分析儀 SPECTRO BLUE

SPECTRO BLUE系統(tǒng)配備斯派克專有的智能分析VISION軟件。憑借其高度適應(yīng)性的接口，該軟件使得它的所有用戶很容易采取充公利用儀器操作簡單和獨(dú)特的分析能力。

全自動(dòng)土壤樣品制備系統(tǒng)G8

全自動(dòng)石墨消解系統(tǒng)適用于分析范圍火焰原子吸收光譜儀和無火焰原子吸收光譜儀，原子熒光光譜儀，ICP光譜儀，極譜儀，化學(xué)分析法等

如何使用斯派克光譜儀分析金屬鎳？

鎳是一種銀白色的金屬，具有良好的機(jī)械強(qiáng)度和延展性。如果在不銹鋼中添加鎳可以改善不銹鋼的可塑性、可焊接性和韌性，全球三分之二的鎳應(yīng)用于不銹鋼工業(yè)，在電鍍、電子電池和航空航天領(lǐng)域也有著廣泛的應(yīng)用。ICP-OES 法測定鎳和鎳合金中痕量元素的主要優(yōu)點(diǎn)是線性工作范圍寬，多元素同時(shí)檢測，測定精密度高而且檢出限好。本文將敘述使用 SPECTRO光譜儀測定鎳和鎳合金中的痕量雜質(zhì)。

如何利用ICP-OES法測定金中痕量元素？

痕量金屬又稱痕量元素，一般是指水中、氣體中含量等于或小于10e-6ppm的任何一種微量金屬元素。電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜 (ICP-OFS)是金和金合金中痕量元素測定的強(qiáng)有力方法。采用全譜直讀型光譜儀對金中的痕量元素的測定具有極好的檢出限。同時(shí)，99.9%的金的含量可從100%中扣除樣品中總的雜質(zhì)含量而得到。

ICP-OES光譜儀測定鉛鋅尾礦中的鋅鉛錳鎘

國內(nèi)對鉛鋅尾礦資源綜合利用主要圍繞有價(jià)資源再選、 建筑材料應(yīng)用與采空區(qū)回填復(fù)墾幾方面展開。但是對于鉛鋅尾礦的綜合利用需要知道尾礦的成分與含量，因此，本文采用采用ICP對鉛鋅尾礦中鉛、鋅、鎘、錳元素進(jìn)行分析。

電感耦合等離子體ICP-OES測定廢水中總磷

本研究使用的電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀GREEN在污水及廢水這類樣品中可分析挑戰(zhàn)性的高重基體中的痕量元素。最后結(jié)果利用該方法測定了水質(zhì)磷酸鹽質(zhì)控樣，結(jié)果準(zhǔn)確，加標(biāo)回收率良好，證明ICP-OES測定廢水中總磷是切實(shí)可行的。

ICP-OES光譜儀對土壤中全鉀的分析方案

鉀是植物生長的三大要素之一，因此，測定鉀的最重要的目的是從肥力角度了解土壤鉀的供給狀況。由于土壤中各種形態(tài)的鉀總是處于相對轉(zhuǎn)化的平衡狀態(tài)中，全鉀量是土壤供鉀潛力的指標(biāo)，同時(shí)也是土壤風(fēng)化度的一種反映。目前土壤中的全鉀一般參照國家林業(yè)標(biāo)準(zhǔn)采用堿熔或者電熱板酸溶-火焰光度法(FP)進(jìn)行測定。鉀的測定方法可以通過各種儀器快速測定，如火焰光度法(FP)、原子吸收光譜法( AAS)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法( ICP-OES)等。本文使用ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀 SPECTRO GREEN對土壤樣品進(jìn)行測定。

ICP/XRF光譜儀在潤滑油及添加劑檢測中的應(yīng)用

等離子體發(fā)射光譜儀和X射線熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于潤滑油添加劑的元素檢測。例如：鋁、銅、鎳或鐵等磨損金屬可指示油潤部件的磨損，并可在磨損達(dá)到臨界水平時(shí)發(fā)出信號(hào)。其他元素如硅、鎂或鉀的存在則會(huì)顯示出潤滑油受到的污染程度。通過測量鉬、鈣、鋇、磷和鋅等元素可以精確監(jiān)測添加劑的有效含量。德國斯派克分析儀公司的等離子體發(fā)射光譜儀用于檢測油品中的添加劑、磨損金屬成分。-    分析方法符合ASTM D4951，ASTM D5185及GB/T17476-    添加劑元素，諸如鉬、鈣、鋇、磷和

光譜XRF在藥物研發(fā)中有什么應(yīng)用？

金屬催化劑通常用于原料藥的合成中,研發(fā)者需要監(jiān)測各種原料和合成工藝中金屬催化劑的殘留情況,從而實(shí)施有效的控制策略。通常使用靈敏度、精密度高和選擇性好的電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES或ICP- OES)或ICP-MS,對藥物中的元素雜質(zhì)進(jìn)行分析。

ICP-OES等離子光譜法測定土壤微量金屬

用電感耦合等離子光譜法，測定了土壤中微量鎳、銅、鉻、鉛和鋅的含量，結(jié)果表明：相對標(biāo)準(zhǔn)偏差為1.78%~3. 12%，回收率為97.3%~103.8%。該方法簡便，易操作，數(shù)據(jù)重復(fù)性好，加標(biāo)回收率高。重點(diǎn)討論了樣品前處理方法對測定結(jié)果的影響。

固體廢棄物分析方法（篩選分析）

固體廢棄物分析（篩選分析）1、在污水殘?jiān)脑瓨臃治觯瑢^半數(shù)元素通過SQX分析的固定角分析滿足HJ781-2016的LLD規(guī)定。雖然HJ781-2016是ICP-OES的標(biāo)準(zhǔn)，但是WDXRF也能作為篩選分析法使用。2、為了防止從樣品揮發(fā)成分的污染，使用樣品薄膜覆蓋殘?jiān)鼧悠贰?、如果可以的話，推薦灰化樣品。4、樣品設(shè)置時(shí)，上照式儀器很方便。推薦儀器：理學(xué)ZSX Primus III=/IV波長色散X射線熒光光譜儀必須品：樣品處理工具配件（MicroCarry,中空樣品杯，樣品薄膜，微量粉末容器），SQX軟件

手持LIBS激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀在高純鋁檢測領(lǐng)域獲得突破

通常把純度（鋁含量）大于99.8%的純鋁叫做高純鋁（high purity aluminium).它是以優(yōu)質(zhì)精鋁為原料，采用定向凝固提煉法生產(chǎn)的。高純鋁又可細(xì)分為次超高純鋁（鋁含量99.5%~99.95%)、超高純度鋁（鋁含量99.996%~99.999%）和極高純度鋁（鋁含量99.999%以上）。高純鋁具有比原鋁更好的導(dǎo)電性、延展性、反射性和抗腐蝕性，在電子工業(yè)及航空航天等領(lǐng)域有著廣泛的用途。在鋁工業(yè)生產(chǎn)中，經(jīng)常要對高純鋁進(jìn)行來料檢測，通常所用的檢測方法有化學(xué)法、ICP法、OES光譜法等實(shí)驗(yàn)室檢測手段，但需要花費(fèi)

商檢德國斯派克ICP光譜儀安裝成功案例

今天安裝的商檢德國斯派克ICP光譜儀成功案例。

新：C位出道-SPECTROGREEN 等離子體發(fā)射光譜儀

德國斯派克分析儀器公司SPECTRO全新研發(fā)的垂直同步雙觀測（DSOI）技術(shù)為提升ICP-OES的靈敏度提供了一種全新的解決方案。采用該技術(shù)解決了等離子體觀測的核心問題，靈敏度是傳統(tǒng)垂直觀測等離子體儀器的數(shù)倍，性能價(jià)格比優(yōu)異。SPECTRO創(chuàng)新的垂直同步雙觀測（DSOI）方式，使用兩個(gè)光學(xué)接口捕獲來自垂直等離子體的發(fā)射光，使得微弱信號(hào)的檢測能力大幅提升，同時(shí)又允許高濃度、重基體進(jìn)樣。進(jìn)一步降低了記憶效應(yīng)和污染風(fēng)險(xiǎn)。DSOI技術(shù)將傳統(tǒng)垂直觀測系統(tǒng)的靈敏度提高了數(shù)倍，避免了垂直雙觀測結(jié)構(gòu)的復(fù)雜缺點(diǎn)和降低了用戶使用成本。