熱門(mén)關(guān)鍵詞:手持式光譜儀 便攜式光譜儀 X射線(xiàn)熒光光譜儀 光譜儀 光譜標(biāo)樣 油料光譜儀 粘度計(jì) 直讀光譜儀 ICP光譜儀 二手光譜儀租賃
儀器:135-0001-7008
標(biāo)樣:180-7108-0982
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日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線(xiàn)管)、樣品室、分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。為了準(zhǔn)確測(cè)量衍射光束與入射光束的夾角,分光晶體系安裝在-一個(gè)精密的測(cè)角儀上,還需要一龐大而精密并復(fù)雜的機(jī)械運(yùn)動(dòng)裝置。由于晶體的衍射,造成強(qiáng)度的損失,要求作為光源的X射線(xiàn)管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線(xiàn)管的效率極低,只有1%的電功率轉(zhuǎn)化為X射線(xiàn)輻射功率,大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫,所以X射線(xiàn)管需要專(zhuān)門(mén)的冷卻裝置(水冷或油冷),因此波譜儀的價(jià)格往往比能譜儀高。
掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是,①有較高的放大倍數(shù),2-20萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào);②有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu);③試樣制備簡(jiǎn)單。 目前的掃描電鏡都配有X射線(xiàn)能譜儀裝置,這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析,因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器。
材料分析測(cè)試技術(shù)和儀器設(shè)備眾多,并且各有優(yōu)點(diǎn),隨其應(yīng)用范圍愈廣,現(xiàn)有的測(cè)試表征手段越來(lái)越不能滿(mǎn)足要求,發(fā)展新的表征方法、測(cè)試技術(shù)勢(shì)在必行。就目前的現(xiàn)狀,小編匯總了材料表征和性能測(cè)試過(guò)程中用到的所有儀器設(shè)備供大家參考。 材料表征 材料的成分分析 1、表征方式:X射線(xiàn)光電子能譜儀 效果:得到材料的元素組成及價(jià)態(tài)或化合態(tài)。 需要注意的問(wèn)題:樣品不能大于2mm厚,僅能測(cè)試表面元素,可以利用濺射一
便攜式X射線(xiàn)熒光分析儀無(wú)論何時(shí)何地滿(mǎn)足地質(zhì)及礦物樣品的需求?,F(xiàn)場(chǎng)檢定礦物及地質(zhì)樣品中的元素組成是一件充滿(mǎn)挑戰(zhàn)的事,野外條件瞬息萬(wàn)變,但無(wú)論是已勘探開(kāi)發(fā)的區(qū)域,還是待勘探開(kāi)發(fā)的處女地,其元素含量的要求是一成不變的。在大多數(shù)情況下需要在采樣現(xiàn)場(chǎng)給出分析結(jié)果,將樣品送回實(shí)驗(yàn)室意味著將耗費(fèi)大量的時(shí)間而導(dǎo)致項(xiàng)目延遲。事實(shí)上,在實(shí)驗(yàn)室對(duì)所有樣品進(jìn)行分析是不可能的,存在著不可操作的問(wèn)題。實(shí)時(shí)現(xiàn)場(chǎng)分析是確定地質(zhì)調(diào)查區(qū)域,以及對(duì)勘探開(kāi)發(fā)方向做出調(diào)整的基本手段。實(shí)時(shí)現(xiàn)場(chǎng)分析數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性是不可忽視的,在各個(gè)含量段,從痕量元素到百分量級(jí);