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ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點介紹
ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點介紹

廣州儀德公司專業(yè)代理日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀?,在理學(xué)光譜上得到廣泛用戶的好評與支持,日本理學(xué)波長色散光譜儀應(yīng)用非常的廣泛:電子和磁性材料、化學(xué)工業(yè)、陶瓷及水泥工業(yè)、鋼鐵工業(yè)、非鐵合金、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油和煤、環(huán)境保護。同時檢測材料狀態(tài)也比較比樣性:粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

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理學(xué)ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀對礦石測定方法
理學(xué)ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀對礦石測定方法

日本理學(xué)ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜分析儀,該儀器為上照式端窗型單道掃描儀,配備LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五塊晶體,性能優(yōu)越,高精密度以及低檢出限,可測試從N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。

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什么是波長色散x射線熒光光譜儀?
什么是波長色散x射線熒光光譜儀?

波長色散x射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)。從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。它的優(yōu)點是不破壞樣品,分析速度快,適用于測定原子序數(shù)4以上的所有化學(xué)元素,分析精度高,樣品制備簡單。X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)。從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發(fā)源,分

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日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定操作實例
日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定操作實例

多數(shù)操作人員對日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程可能不大清楚或者并沒有具體的操作,儀德公司分享采用日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定方法操作實例,方便廣大用戶進行學(xué)習(xí),本方法來源于網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)供參考用,不做商業(yè)用。檢定項目操作實例以日本理學(xué)X射線熒光光譜儀為例,以表1為技術(shù)指標(biāo),進行分析測試。1、精密度測試精密度以12次連續(xù)重復(fù)測量的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD表示。每次測量都必須改變機械設(shè)置條件,包括晶體、計數(shù)器、準(zhǔn)直器、2θ角度、濾波片、衰減器和樣品轉(zhuǎn)臺位置等。上式中:s——n次測量的標(biāo)

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波長色散X射線熒光光譜儀環(huán)境條件與技術(shù)指標(biāo)(分享版)
波長色散X射線熒光光譜儀環(huán)境條件與技術(shù)指標(biāo)(分享版)

根據(jù)JJG810-1993中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程《波長色散X射線熒光光譜儀》,對儀器進行檢定/校準(zhǔn),在確保各項指標(biāo)合格的前提下,儀器方可投入使用。本文對檢定中涉及的指標(biāo)進行具體實驗分析統(tǒng)計,給出詳細(xì)的統(tǒng)計結(jié)果。并對檢定的項目進行了探討,為下一步檢定規(guī)程的修訂提供了建議。波長色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程1993年的版本一直沿用至今天,但是X射線熒光光譜儀已經(jīng)進行了飛速的發(fā)展,如今的波長色散X射線熒光光譜儀器已經(jīng)發(fā)展到了波譜、能譜和微區(qū)掃描三者相結(jié)合的大型儀器,具備了更優(yōu)異的檢測性能和新增了掃描性能,并且隨著國

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波長色散X射線熒光光譜儀的新進展
波長色散X射線熒光光譜儀的新進展

X射線熒光光譜分析在20世紀(jì)80年代初已是一種成熟的分析方法,是實驗室、現(xiàn)場分析主、次量和痕量元素的首選方法之一。X射線熒光光譜儀(XRF)是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線),從而進行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有波長色散型和能量色散型兩種,適用于測定鈹 (Be)以上的化學(xué)元素的含量。它的優(yōu)點是不破壞樣品,分析速度快,分析精度高,樣品制備簡單。X射線熒光光譜儀還可以用于微區(qū)分析及確定分層和涂層的厚度和成分。X-射線與物質(zhì)的交換XRF熒光光譜儀是可以

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波長色散X射線熒光光譜儀
波長色散X射線熒光光譜儀

來源:分析測試百科網(wǎng)我國學(xué)者對不同時期WDXRF的進展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看,依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上,但儀器面目全新??v觀30年來的發(fā)展軌跡,可總結(jié)出如下特點 。(1) 現(xiàn)代控制技術(shù)的應(yīng)用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中,從20世紀(jì)80年代起,一些機械部件為電子線路所取代,電子線路又進而被軟件所取代。如一些儀器制造商分別用無齒輪莫爾條紋測角儀和激光定位光學(xué)傳感器驅(qū)動測角儀,取代傳統(tǒng)θ/2θ齒輪機械運動的測角儀,2θ掃描精度也由齒輪機械運動的±0.001&d

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什么是能量色散X射線熒光光譜儀
什么是能量色散X射線熒光光譜儀

能量色散X射線熒光光譜儀由X射線光管、樣品室、準(zhǔn)直器、探測器及技術(shù)電路和計算機組成。此外,亦可在樣品前加一單色器,達(dá)到降低背景的目的,以改善色散X射線熒光光譜儀的檢出限。它與波長色散X射線熒光光譜儀的顯著不同是分光晶體,而是直接用能量探測器來分辨特征譜線,達(dá)到定性和定量分析的目的。如圖:能量色散X射線熒光光譜儀 當(dāng)樣品中待測元素的特征射線進入能量探測器時,既會產(chǎn)生電子孔穴對,其數(shù)量正比于入射光子的能量,經(jīng)過前置放大器,產(chǎn)生典雅脈沖。由于前方產(chǎn)生的信號幅度小,信噪比低,需要慢脈沖成型放大器將其放大,并采用濾

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RoHS檢測儀分析原理及適用儀器
RoHS檢測儀分析原理及適用儀器

ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件,相對簡單。相對應(yīng)的X射線熒光光譜儀有:手持式ROHS分析儀斯派克臺式小焦點X射線熒光光譜儀

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