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SEM掃描電鏡知識(shí)點(diǎn)掃盲

2017年06月16日11:47 

1. 光學(xué)顯微鏡以可見光為介質(zhì),電子顯微鏡以電子束為介質(zhì),由于電子束波長遠(yuǎn)較可見光小,故電子顯微鏡分辨率遠(yuǎn)比光學(xué)顯微鏡高。光學(xué)顯微鏡放大倍率最高只有約1500倍,掃描式顯微鏡可放大到10000倍以上。


  2. 根據(jù)de Broglie波動(dòng)理論,電子的波長僅與加速電壓有關(guān):


  λe=h / mv= h / (2qmV)1/2=12.2 / (V)1/2 (?)


  在 10 KV 的加速電壓之下,電子的波長僅為0.12?,遠(yuǎn)低于可見光的4000 - 7000?,所以電子顯微鏡分辨率自然比光學(xué)顯微鏡優(yōu)越許多,但是掃描式電子顯微鏡的電子束直徑大多在50-100?之間,電子與原子核的彈性散射 (Elastic Scattering) 與非彈性散射 (Inelastic Scattering) 的反應(yīng)體積又會(huì)比原有的電子束直徑增大,因此一般穿透式電子顯微鏡的分辨率比掃描式電子顯微鏡高。


  3. 掃描式顯微鏡有一重要特色是具有超大的景深(depth of field),約為光學(xué)顯微鏡的300倍,使得掃描式顯微鏡比光學(xué)顯微鏡更適合觀察表面起伏程度較大的樣品。


  4. 掃描式電子顯微鏡,其系統(tǒng)設(shè)計(jì)由上而下,由電子槍 (Electron Gun) 發(fā)射電子束,經(jīng)過一組磁透鏡聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后,用遮蔽孔徑 (Condenser Aperture) 選擇電子束的尺寸(Beam Size)后,通過一組控制電子束的掃描線圈,再透過物鏡 (Objective Lens) 聚焦,打在樣品上,在樣品的上側(cè)裝有訊號(hào)接收器,用以擇取二次電子 (Secondary Electron) 或背向散射電子 (Backscattered Electron) 成像。

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