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首頁行業(yè)資訊 理學ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀對礦石測定方法

理學ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀對礦石測定方法

2020年04月01日11:17 網(wǎng)絡

日本理學ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜分析儀,該儀器為上照式端窗型單道掃描儀,配備LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五塊晶體,性能優(yōu)越,高精密度以及低檢出限,可測試從N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。


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理學ZSX PrimusⅡX射線熒光光譜儀是大型的緊密分析儀器,其價格昂貴,具有準確、快速、無損、多元素同時測定、自度化程度高、測試含量范圍廣的特點。已經(jīng)廣泛應用于鋼鐵、地質、冶金、礦山、水泥工業(yè)、陶瓷工業(yè)、石油、環(huán)保、食品、商檢等領域。



本文章通過理學ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀的無標樣線性E-Z掃描方法進行半定量分析,匹配軟件自帶的 數(shù)據(jù)庫,用SQX定性分析計算結果,對礦石樣品進行粉末壓片法進行測定分析。



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